La visibilidad del grafeno en un sustrato es un tema importante que debe abordarse para encontrar grafeno . Dado que el grafeno se obtiene principalmente por exfoliación mecánica del grafito y posteriormente se deposita sobre un sustrato de silicio oxidado (SiO 2 /Si) sin fijar una posición en la superficie del sustrato, es necesario primero encontrar las piezas en la superficie. Dado que el grafeno tiene solo un átomo de espesor, es importante elegir las condiciones más favorables para buscar en un microscopio óptico (por ejemplo, frecuencia de onda de luz, espesor dieléctrico, ángulo de visión) [1] [2] .
El cálculo utilizando las fórmulas de Fresnel , teniendo en cuenta múltiples reflexiones de las interfaces de los medios, mostró que los más ventajosos para usar en el rango de luz visible son los espesores dieléctricos de 100 nm y 300 nm [1] [2] . Actualmente se utilizan sustratos de silicio con un espesor dieléctrico de 300 nm.
A pesar de que el espesor del grafeno es de un átomo, las propiedades ópticas del grafeno libre son tales que su transparencia está determinada únicamente por la constante de estructura fina [3] . (ver Constante de estructura fina (grafeno) )