Análisis de difracción de rayos X

El análisis estructural de rayos X (XRD, también : análisis de difracción de rayos X) es uno de los métodos de difracción para estudiar la estructura de una sustancia. Este método se basa en el fenómeno de la difracción de rayos X en una red cristalina tridimensional.

El fenómeno de la difracción de rayos X por cristales fue descubierto por Laue , la justificación teórica del fenómeno fue dada por Wolfe y Bragg ( la condición de Wolfe-Bragg ). Como método, Debye y Scherrer desarrollaron el análisis de difracción de rayos X.

El método le permite determinar la estructura atómica de una sustancia, que incluye el grupo espacial de la celda elemental , su tamaño y forma, así como determinar el grupo de simetría cristalina .

Hasta el día de hoy, el análisis de difracción de rayos X es el método más común para determinar la estructura de una sustancia debido a su simplicidad, versatilidad (aplicable al estudio de cualquier molécula) y relativo bajo costo [1] .

Variedades de método

Véase también

Notas

  1. Polishchuk V. R. Cómo ver una molécula. - M., Química, 1979. - Circulación 70.000 ejemplares. - S. 243-280